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為你介紹X熒光光譜儀的資訊

發布時間:2022-09-06 08:44:25         點擊:106

       X熒光光譜儀,是一款可對多種樣品進行元素分析的高效儀器,為你介紹一下關于X熒光光譜儀的相關資訊。

       試樣制備

       對于不同的材料、不同的物質濃度、不同的分析方法、不同的分析質量要求,應有與之相應的試祥制備方法。

       標準物質

       XRF的分析結果是通過校準工作曲線獲得,而標準工作曲線由標準試樣經測量、校正,回歸而得,所以制備標準試樣的標準物質對于X熒光光譜儀的分析是必須的,它的質量直接影響分析結果的質量。此外,用標準物質也可以檢驗分析的準確性和分析方法的可靠性。

X熒光光譜儀的文物檢測

X熒光光譜儀的文物檢測

       檢出限

       波長色散X射線熒光光譜WDXRF分析的檢出限對于原子序數中等以上的元素可達6-10μg/g。能量色散X射線熒光光譜(EDXRF)分析,通常較WDXRF低1-2數量級。

       定量分析

       涉及各種的數學模式的推導,以及如何選擇數學模式作定量分析,包括基本參數法,理論a系數法和經驗系數法。XRF分析中的基體校正可用電子空白表格程序自動進行Lan. chance模式基體校正,這是一種簡單、適用,有效的軟件。

       應用領域

       主要集中在痕量分析和微分析方面,適用于環境控制、質量管理、半導體和工程材料制造,如飲用水、廢水、工業污水的痕量元素分析。空氣、汽車尾氣的分析,利用X射線控制集成電路生產,半導體表面雜質分析,基底的薄膜分析,表面下的深度分析,潔凈鋼雜質分析,硅酸鹽和巖石的分析。

       總的來說,X熒光光譜儀作為一款多類樣品的檢測手段,是非常重要的一款儀器。
 

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